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丁洁

 

一、基本情况

1

2)个人主页:

3)职称:副教授

4)学位:工学博士

5)工作单位:太原理工大学电气与动力工程学院自动化系

6)职务:无

7)电话:13934135667

8)邮箱:dingjie2015@foxmail.com

二、研究方向

1)工业自动化

2)新型半导体器件特性研究

三、教育经历

2005.9~2009.7 太原理工大学自动化系,大学本科

2009.9~2012.7 太原理工大学测控技术研究所,硕士研究生

2011.10~2015.12 英国格拉斯哥大学,博士研究生

四、工作经历

2016.1—2017.12太原理工大学,信息工程学院自动化系任教

2018.1至今 太原理工大学,电气与动力工程学院自动化系任教

2017.8—2017.9 英国格拉斯哥大学,荣誉访问学者

五、学术及社会兼职

六、承担项目情况(以表格形式给出)

国家自然基金青年基金项目,题目《POM分子新型闪存器件统计式建模方法与电路级特性优化研究》

七、发表学术论文(论文题目/刊物/卷、期、页/作者顺序/收录情况)

[1] Ding, Jie(#) (*)Reid, DaveAsenov, PlamenMillar, CampbellAsenov, AsenInfluence of Transistors With BTI-Induced Aging on SRAM Write PerformanceIEEE Transactions on Electron Devices20156210):3133-3138

[2] Ding, Jie(#) (*)Reid, DaveMillar, CampbellAsenov, Asen, Investigation of SRAM using BTI-aware statistical compact modelsSolid-State Device Research Conference (ESSDERC), 2013 Proceedings of the European186-189Bucharest2013.9.16-2013.9.20

[3] Ding, Jie(#) (*)Reid, DaveMillar, CampbellAsenov, Asen, An accurate compact modelling approach for statistical ageing and reliabilitySimulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), 2013 International Conference on57-60Glasgow2013.9.3-2013.9.5

[4] Gerrer, Louis (#) (*)Ding, JieAmoroso, SalvatoreAdamu-Lema,FikruHussin, RazaidiReid, DaveMillar, CampbellAsenov, Asen,Modelling RTN and BTI in nanoscale MOSFETs from device to circuit: A reviewMicroelectronics Reliability2014544):682-697

[5] Hussin, Razaidi (#) (*)Gerrer, LouisDing, JieWang, LipingAmoroso,SalvatoreCheng, BinjieReid, DaveWeckx, PSimicic, MFranco,JVanderheyden, AVanhaeren, DHoriguchi, NKaczer, BAsenov, AsenStatis tical simulations of 6T-SRAM cell ageing using a reliability aware simulation flowSolid State Device Research Conference (ESSDERC), 2015 45th EuropeanGraz2015.9.14-2015.9.18

[6] Hussin, Razaidi (#) (*)Gerrer, LouisDing, JieAmoroso,SalvatoreWang, LipingSemicic, MWeckx, PFranco, JVanderheyden, AVanhaeren, DHoriguchi, NKaczer, BAsenov, Asen, Reliability aware simulation flow: From TCAD calibration to circuit level analysis2015 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD)Washington, DC2015.9.9-2015.9.11

[7] Asenov, Asen(#) (*)Ding, JieReid, DaveAsenov, PlamenAmoroso, SalvatoreAdamu-Lema, FikruGerrer, LouisUnified approach for simulation of statistical reliability in nanoscale CMOS transistors from devices to circuitsCircuits and Systems (ISCAS), 2015 IEEE International SymposiumonLisbon2015.5.24-2015.5.27

[8] Gerrer, Louis (#) (*)Amoroso, SalvatoreAsenov, PlamenDing, JieCheng, BinjieAdamu-Lema, FikruMarkov, StanislavReid, DaveMillar, CampbellAsenov, AsenInterplay Between Statistical Reliability and Variability: A Comprehensive Transistor-to-Circuit Simulation Technology2013 IEEE International Reliability Physics Symposium, IRPS 2013Anaheim2013.4.14-2013.4.18

[9] Ding, Jie(#) (*)Reid, DaveAsenov, PlamenMillar, CampbellAsenov, AsenEvaluating the impact of ageing on SRAM stability using accurate statistical Compact ModelsProceeding of Designing with Uncertainty Opportunities & Challenges workshopYork 2014.3.17-2014.3.19

[10] Ding, Jie(#) (*)Asenov, PlamenReid, DaveMillar, CampbellAsenov, AsenStatistical Compact Model Extraction in the Presence of BTI DegradationVARINice2012.6.11-2012.6.12

八、代表性学术成果

1、科技奖

2、发明专利

3、专著

4、教材

九、所获得荣誉(荣誉名称/荣誉授予单位/级别/时间/角色

十、研究生指导情况

20174名 车玲娟 杨祖莨 刘晋峰 郭志文

20161名 田刚鹏

十一、联系方式

1)通讯地址

山西省太原市迎泽西大街79号,太原理工大学电气与动力工程学院自动化系

2)邮编 :030024

3)电话:13934135667

4)邮箱:dingjie2015@foxmail.com


丁洁承担项目统计

类别

序号

项目名称

项目属性

项目状态(在研或结题)

金额

执行期

角色

1

POM分子新型闪存器件统计式建模方法与电路级特性优化研究

国家自然基金青年基金项目

在研

19

2017~ 2019

主持

 

丁洁成果统计

类别

序号

会议名称

地点

主办

时间

角色

1

Simulation of Semiconductor Processes and Devices   (SISPAD)

Glasgow,   UK

IEEE

2013.9

做大会报告并发表论文

2

Solid-State Device Research Conference (ESSDERC)

Bucharest

Romania

IEEE

2013.9

做大会报告并发表论文

3

VARI

Nice,

France

2012.6

做大会报告并发表论文

4

Designing with Uncertainty Opportunities &   Challenges workshop

York,

UK

The University of   York

2014.3

做大会报告并发表论文


 

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